パワーサイクル試験装置

パワー半導体の信頼性試験に欠かせないパワーサイクル試験装置です。

パワーサイクル試験装置

本装置は、試料（IGBT、IPM、SiC、GaN、Diode 等）に、規定の電力を消費させ、決められた時間内で断続通電を行い、試料の信頼性試験を行う装置です。 同時に熱抵抗測定も可能であり、そのデータをHOST PCに取り込みます。

◇主な仕様

通電モード	連続・間欠　（熱抵抗測定可能）
通電電源	定電流　　～800A　max 開放電圧　16V Vce設定　～10.0V　（IGBTの場合、VGEは自動コントロ－ル）
時間設定	通電時間　0.5　～　600.0Sec 停止時間　１～　3600Sec
回数設定	サイクル数（運転モード共通)　999999回 間欠動作回数（カウンタ－機能付き）　9999999回
動作モード	１）定電力　　　（IGBT） ２）VCE(ON)　（IGBT・IPM） ３）VF　　　　　　（Diode）
温度調整	強制空冷式ヒートシンク

※本仕様は一例です。詳細はお問い合わせください。