動特性検査装置

各種半導体（IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode 等）の動特性検査装置・関連情報をご紹介します。

動特性実験機A19W006

試作品などの、評価したいデバイスを手軽に、安全に検証！

パワーデバイスの実験や検証にお困りではございませんか？

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3000V1800Aまでの動特性実験が手軽に、安全に行えます！

詳細な説明は、以下のリンクからご覧ください。

動特性検査装置の波形表示機能について

動特性の検査では、波形解析・測定機能が不可欠です。ただし、各測定値の妥当性判断やパラメータ設定には、測定波形表示機能も欠かせません。当社の波形表示機能は、実際の測定波形に加えて測定ポイントも表示され、測定結果の妥当性を目で見て確認することができます。このため、お客様からは非常に高い評価をいただいています。詳細な説明は、以下のリンクからご覧ください。

超低Ls（ストレーインダクタンス）動特性検査装置技術資料

個別製品のご紹介に先だって、コペル電子で実現している超低Ls動特性検査装置のデータをご紹介します。画像をクリックしてください。

パワー・モジュール用動特性検査装置

パワー・モジュール用動特性検査装置
各種半導体（IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等）のパワー・モジュールを対象とした動特性測定装置（AC特性測定装置）です。 特に高信頼性を要求される自動車用等に最適な温度管理機能を持ったチャンバー型もあります。

ウェーハチップ単体用動特性検査装置

ウェーハチップ単体用動特性検査装置
各種半導体（IGBT、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等）のウェーハチップ単体を対象とした動特性測定装置（AC特性測定装置）です。チップ単体での出荷検査や受け入れ検査をはじめ、パッケージ封止前の工程での動特性検査が可能になります。

PBCシリーズ　基準パルス発生器

PBCシリーズ基準パルス発生器
当社の開発現場から生まれた、動特性の検証にはなくてはならない機器です。パワーデバイス測定用のオシロスコープ・プローブの調整のために用いられ、45000V/μs以上の急峻な電圧波形を出力することにより、波形の歪みを厳しくチェックすることができます。

CSQシリーズ　位相補正器

CSQシリーズ位相補正器
200V 100Aの同相パルスを出力するもので、オシロスコープで波形の立上りポイントを観測するだけでプローブの遅れ時間をチェックすることができます。この装置も当社の開発現場から生まれた、動特性の検証にはなくてはならない機器です。

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上記製品および詳細ページに記載の製品は、弊社製品の一例としてご覧ください。 ほかの多くの製品はお客様との機密保持契約により、一般公開に制限がありますことをご了承ください。