コペル電子株式会社 コペル電子株式会社 半導体検査装置
サイトマップEnglish

コペル電子の半導体計測器コペル電子 製品紹介 (半導体検査装置)

動特性検査装置

 ► 各種半導体の動特性の測定器をご紹介します。


パワー・モジュール用動特性検査装置

パワー・モジュール用動特性検査装置

各種半導体(IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等)のパワー・モジュールを対象とした動特性測定装置(AC特性測定装置)です。 特に高信頼性を要求される自動車用等に最適な温度管理機能を持ったチャンバー型もあります。
チップ用動特性検査装置

ウェーハチップ単体用動特性検査装置

各種半導体(IGBT、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等)のウェーハチップ単体を対象とした動特性測定装置(AC特性測定装置)です。チップ単体での出荷検査や受け入れ検査をはじめ、パッケージ封止前の工程での動特性検査が可能になります。


上記製品および詳細ページに記載の製品は、弊社製品の一例としてご覧ください。
ほかの多くの製品はお客様との機密保持契約により、一般公開に制限がありますことをご了承ください。



Copyright© Coper Electronics Co., Ltd. All Rights Reserved.