コペル電子　製品紹介 （半導体検査装置）

静特性検査装置

 ► 各種半導体の静特性の測定器をご紹介します。

	パワー・モジュール用静特性検査装置 各種半導体（IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode 等）のパワー・モジュールを対象とした静特性測定装置（DC特性測定装置）です。
	ウェーハチップ単体用静特性検査装置 各種半導体（IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode 等）のウェーハチップ単体を対象とした静特性測定装置（DC特性測定装置）です。

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