コペル電子　製品紹介 （半導体検査装置）

半導体検査装置・測定器

 ► コペル電子の主要製品、各種半導体の静特性・動特性等の測定器・検査機をご紹介します。

	動特性検査装置（ＡＣテスター） 各種半導体（IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Tr、Diode 等）の動特性検査（測定）装置です。 ◆測定項目例　 スイッチングタイム・負荷短絡・Tr・Tf・Td・Eon・Eoff・Irr・Trr・Err・Qg
	静特性検査装置（ＤＣテスター） 各種半導体（IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Tr、Diode 等）を対象とした 静特性（DC特性）測定（検査）装置です。 ◆測定項目例　 Vf・If・Vr・Ir・Vgt・Igt・Hfe
	過渡 熱抵抗（ΔｍＶ）測定器 各種半導体（IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Tr、Diode 等）を対象とした 過渡熱抵抗測定（検査）装置です。半導体に規定の電力を消費させ、半導体チップの温度上昇をいろいろなパラメータから測定します。
	パワーサイクル（ＰＣＴ、ＴＦＴ）試験装置 各種半導体（IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Tr、Diode 等）のパワーサイクル試験装置です。半導体に規定のパターンで電力を消費させ、疲労度や耐久性を検査するスクリーニング装置です。
	オートハンドラー（モジュール／チップ） 各種半導体（IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Tr、Diode 等）用のオートハンドラーです。 ◆検査ラインの構築にはなくてはならない搬送機です。 《コペル電子のノウハウに基づく大電力用オリジナルコンタクトが生かされています。》

上記製品および詳細ページに記載の製品は、弊社製品の一例としてご覧ください。
ほかの多くの製品はお客様との機密保持契約により、一般公開に制限がありますことをご了承ください。

半導体計測器部門　測定器対応範囲

 ► コペル電子では下記のデバイスや測定項目に対応する測定器を製作しています。
　　（下記以外のデバイス、測定項目についてもご相談ください。）